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Sensofar共聚焦白光干涉儀 | AI多焦面疊加技術(shù)

更新時間:2024-11-27點擊次數(shù):178

主動照明多焦面疊加是一種為了測量粗糙的表面形狀而開發(fā)的光學(xué)技術(shù)。這項技術(shù)基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 測量領(lǐng)域的廣泛專業(yè)知識,專門設(shè)計用于補充低放大率下的測量。

BACKGROUND

多焦面疊加原理

主動照明多焦面疊加技術(shù)利用了明場中存在景深的特點,樣品只有在的特定 z 范圍中對焦。 景深會根據(jù)物鏡的數(shù)值孔徑或光源波長而變化。 Z 高度的值是根據(jù)圖像的高對比度(清晰度或微小細(xì)節(jié))來計算的,從而得出正確的對焦位置。

Background AiFV

光學(xué)技術(shù)

我們的光學(xué)技術(shù)是通過專*的microdisplay來實現(xiàn),光線會從光源 (LED) 發(fā)出,同時穿過microdisplay上陣列排布的光學(xué)元件,反射到達相機。 在這種情況下,microdisplay就像一面鏡子(100% 反射率)。 這種光學(xué)技術(shù)就像一個標(biāo)準(zhǔn)的視頻顯微鏡。 通過執(zhí)行垂直掃描,可以在每個平面上捕獲明場圖像。

S neox Ai Focus Variation Configuration

專*算法

克服多焦面疊加的限制

在較為光滑的表面上,對焦時會無法獲得足夠的信號來識別正確的焦點位置。 這通常是因為在光滑表面的上,會出現(xiàn) 3D 雜訊。 Sensofar 使用主動照明進行了改進,現(xiàn)在通過microdisplay 投射出人造紋理(棋盤圖案),即使在光滑表面上因為對比度差而在對焦時無法提供足夠的信號,也能獲得更可靠的對焦位置。

Ai Focus Variation Algorithm

 

Insert AiFV

主要特點

該技術(shù)的亮點包括高斜率表面(高達 86o),掃描速度(3 mm/s)和較大的垂直范圍測量。

在散射表面上測量可達 86o 的斜率支援

主動照明允許在光滑表面上進行測量 

快速掃描,3 秒內(nèi)拍攝200張圖像 

多個光源


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