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層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運用于電動車的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而，在循環(huán)過程中的結(jié)構劣化會造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產(chǎn)生的層間滑移（planargliding）和晶內(nèi)微裂紋（microcracking）為結(jié)構劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象，即為在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹，高壓區(qū)間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...

偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對樣品微觀結(jié)構的精細觀察上，還體現(xiàn)在對樣品性質(zhì)的深入分析上。以下將詳細闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢。一、重要作用揭示樣品微觀結(jié)構：偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強樣品中的細節(jié)和對比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結(jié)構。這對于材料科學、地質(zhì)學、生物學等領域的科研工作者來說至關重要，因為他們需要深入了解樣品的內(nèi)部結(jié)構以揭示其性質(zhì)和功能。分析樣品光學性質(zhì)：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...

在科技日新月異的今天，高精度測量技術已成為眾多科研與工業(yè)領域至關重要的重要工具。其中，5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀以其杰出的性能和廣泛的應用領域，成為了精密測量領域中的一顆璀璨明星。這款儀器結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和先進的3D光學輪廓儀技術，實現(xiàn)了在固定位置上的全自動3D表面測量。其特殊的五軸設計，使得樣品可以在多個方向上進行靈活旋轉(zhuǎn)和定位，從而確保了對復雜曲面和不規(guī)則形狀樣品的全表面精確測量。5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀的測量原理基于白光干涉現(xiàn)象。光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準...

蔡司掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料科學、生命科學等領域的重要分析工具，其樣品的制樣過程直接關系到觀察結(jié)果的準確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確制備樣品，從而獲得高質(zhì)量的微觀圖像。首先，根據(jù)樣品的性質(zhì)（如導電性、硬度等）選擇合適的制樣方法。對于導電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導電膠將其固定在樣品臺上。而對于導電性較差或非導電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表面進行鍍膜處理，以增加導電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進行樣品的清洗和干燥。...

我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關新功能的信息，有一個演示該系統(tǒng)在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

隨著國家對新材料和新工藝的迫切需求，功能無機材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應用正在蓬勃發(fā)展。與此同時，如何進行高分辨率的微觀表征和實時過程監(jiān)測，也成為相關研究的重要課題。在這一領域，掃描電鏡以其獨*的成像與分析功能，提供了極*價值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實現(xiàn)了納米級空間分辨率，可以直接觀測樣品的微納結(jié)構。同時，其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成，研究材料結(jié)構與性能之間的內(nèi)在關系。此外，ZEM18還可進行各種原位測試，實現(xiàn)對化學反應過程的實時、動態(tài)監(jiān)測。這為研...

掃描電鏡是一種廣泛應用于材料科學、半導體工藝等領域的*備工具，它可以通過探測樣品表面激發(fā)出來的電子信號，對物質(zhì)微觀形貌進行表征。在半導體工藝中，掃描電子顯微鏡被廣泛應用于器件結(jié)構的實時檢測和剖面分析方面，為生產(chǎn)和研發(fā)提供了其他測試分析儀器所無法提供的直接測量信息。澤攸科技的ZEM18掃描電鏡，可以實現(xiàn)高分辨率的表面形貌觀測、元素分析、晶體結(jié)構分析等功能，適用于半導體材料的表征和分析。我們的掃描電鏡可以幫助客戶實現(xiàn)器件結(jié)構的實時檢測和剖面分析，提高半導體器件的制造質(zhì)量和性能穩(wěn)定...

近期，加拿大多倫多大學YuZou課題組與北京大學高鵬課題組、美國愛荷華州立大學QiAn課題組、加拿大達爾豪斯大學PenghaoXiao課題組合作，報道了利用電場控制位錯運動，他們通過原位和原子尺度電鏡表征結(jié)合理論計算揭示了電場控制位錯運動的機制。該研究成果以“利用電場控制位錯移動”（Harnessingdislocationmotionusinganelectricfield）為題，于6月19日發(fā)表在《自然-材料》（NatureMaterials）。位錯是晶體中常見的線缺陷，...