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當(dāng)前位置:首頁技術(shù)文章Sensofar共聚焦白光干涉儀測量原理

Sensofar共聚焦白光干涉儀測量原理

更新時(shí)間:2024-11-29點(diǎn)擊次數(shù):280

增強(qiáng)型光學(xué)測量技術(shù)

雖然一開始作為高性能 3D 光學(xué)輪廓儀設(shè)計(jì),但是我們的某些系統(tǒng)勝過所*現(xiàn)有的光學(xué)輪廓儀,集所有技術(shù)于一身。

條紋投影

AI 多焦面疊加

共聚焦

干涉

光譜反射

Fringe Projection measurement of a Tablet, high vertical accuracy

fringe_projection_tech

條紋投影非常適合大面積測量,垂直
精度和可重復(fù)性高,
系統(tǒng)噪聲低。

了解更多

產(chǎn)品陣容

技術(shù)組合

我們的系統(tǒng)采用不同光學(xué)測量技術(shù)進(jìn)行工作,一部分系統(tǒng)采用組合技術(shù)。聚集這些技術(shù)的優(yōu)點(diǎn),外加*新技*和操作軟件,成就市場上*具競爭力的高級(jí)測量設(shè)備。

S wide technologies

S neox technologies

S lynx & S mart2

s-onix2

為何使用四合一技術(shù)?

4-in-1 optical metrology techniques graph

采用 Sensofar 的四合一法 – 正如 S neox 系統(tǒng)那樣 – 在軟件中單擊一次就可將系統(tǒng)切換到適合當(dāng)前任務(wù)的技術(shù)。S neox 傳感器頭采用 4 種測量技術(shù) – Ai 多焦面疊加、共聚焦、干涉 & 光譜反射 – 因此,每種技術(shù)都是實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)通用性的重要因素,有利于減少數(shù)據(jù)采集時(shí)不希望發(fā)生的缺陷,同時(shí)提供 Sensofar 的一*表面測量性能。

 

專*技術(shù)

微顯示是關(guān)鍵!

Sensofar 的系統(tǒng)采用專*微顯示掃描技術(shù)。微顯示以硅基鐵電體液晶 (FLCoS) 技術(shù)為基礎(chǔ),打造沒有運(yùn)動(dòng)零件的快速切換裝置,使共聚焦圖像掃描快速、可靠、精確。微顯示器結(jié)合高分辨率掃描臺(tái)和可更換物鏡,構(gòu)成了一套靈活的光學(xué)系統(tǒng)。

3D optical metrology techniques Microdisplay Image


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