S wide大面積3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的應(yīng)用和優(yōu)點(diǎn)

更新時(shí)間：2025-02-17

點(diǎn)擊次數(shù)：102

新世代的大范圍計(jì)量工具

S wide 是專用系統(tǒng)，適用于快速測(cè)量大樣品區(qū)域，測(cè)量面積最高可達(dá) 300 x 300 mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測(cè)量?jī)x器的所有優(yōu)點(diǎn)。一鍵式采集功能，易于使用。

解決方案

大面積3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

先進(jìn)制造業(yè)

考古學(xué)與古生物學(xué)

消費(fèi)類電子產(chǎn)品

醫(yī)療設(shè)備

模塑

光學(xué)

鐘表業(yè)

關(guān)鍵特性

整個(gè)拼接擴(kuò)展區(qū)域都擁有亞微米高度重復(fù)性。

無(wú)需Z軸掃描即可測(cè)量最高40mm的單次測(cè)量高度。

具有極低場(chǎng)失真的雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭，提供精確的測(cè)量。

與3D CAD模型的形狀偏差提供幾何差異和公差測(cè)量

可追溯性

表面紋理測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)

我們的所有系統(tǒng)精心制造，提供準(zhǔn)確、可追溯的測(cè)量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)：Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。

屏幕截圖 2025-02-17 163223.png

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S wide大面積3D光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的應(yīng)用和優(yōu)點(diǎn)