S wide 是專(zhuān)用系統(tǒng)，適用于快速測(cè)量大樣品區(qū)域，測(cè)量面積最高可達(dá) 300 x 300 mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測(cè)量?jī)x器的所有優(yōu)點(diǎn)。一鍵式采集功能，易于使用。

一、 應(yīng)用領(lǐng)域：大面積 3D 光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

• 先進(jìn)制造業(yè)

• 考古學(xué)與古生物學(xué)

• 消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品

• 醫(yī)療設(shè)備

• 模塑

• 光學(xué)

• 鐘表業(yè)

Sensofar大視野3D光學(xué)輪廓儀

二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1. 亞微米高度可重復(fù)性，可擴(kuò)展整個(gè)區(qū)域內(nèi)

2. 無(wú)需 Z 軸掃描即可測(cè)量最高 40mm 的單次測(cè)量高度

3. 具有極低場(chǎng)失真的雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭，提供精確的測(cè)量

4. 可追溯性：采用ISO 標(biāo)準(zhǔn)

每一款 S wide 產(chǎn)品都是為提供準(zhǔn)確且可追溯的測(cè)量結(jié)果而制造的。系統(tǒng)根據(jù) ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)。

5. 與 3D CAD 模型的形狀偏差：提供幾何差異和公差測(cè)量

6. 表面紋理測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)

我們的所有系統(tǒng)精心制造，提供準(zhǔn)確、可追溯的測(cè)量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關(guān)于下列參數(shù)的指南的可追溯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)：Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。