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三維光學(xué)輪廓儀
3D光學(xué)輪廓儀
三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100
具備最高性價比的 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測量樹立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉(WLI)創(chuàng)新技術(shù),具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測量能力。
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具備最高性價比的 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測量樹立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉(WLI)創(chuàng)新技術(shù),具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測量能力。新一代增強(qiáng)功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺,實現(xiàn)更多縫合功能,并新增一個測量模式 USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱*****的臺式系統(tǒng)。
優(yōu)異
Z向分辨率
提供不受放大率影響的一致的精準(zhǔn)測量。
準(zhǔn)確
計量值
簡化設(shè)計,不影響測量功能。
友好
軟件界面
提供對大量預(yù)編程過濾器和分析程序的直接調(diào)用。
特點
**計量能力
白光干涉所有物鏡均提供恒定的最佳垂直分辨率。
三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100是布魯克 40 多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領(lǐng)域?qū)S泄鈱W(xué)創(chuàng)新和****力的結(jié)晶。該系統(tǒng)利用三維 WLI 和二維成像技術(shù),一次采集可執(zhí)行多次分析。ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發(fā)揮穩(wěn)定性能。
****的價值和分析
ContourX-100 手動平臺。
ContourX-100 臺式可執(zhí)行數(shù)千種自定義分析,并采用布魯克簡單而強(qiáng)大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面,提升了實驗室和工廠的生產(chǎn)效率。軟硬件的**結(jié)合,實現(xiàn)簡便操作下的高效率光學(xué)性能,全面****計量技術(shù)。
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