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澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無限)旋轉冷臺，冷臺傾轉角度55°，冷臺溫度≤180℃。

SEM熱電芯片臺可搭配電學測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng)可以實現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。