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技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES當(dāng)今工業(yè)領(lǐng)域?qū)τ诋a(chǎn)品的質(zhì)量和安全性的要求越來(lái)越高,因此需要高效、準(zhǔn)確的檢測(cè)技術(shù)來(lái)保障產(chǎn)品的品質(zhì)。掃描電鏡作為一種高分辨率、高靈敏度的成像技術(shù),已經(jīng)在工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。從微觀(guān)結(jié)構(gòu)到表面形貌的檢測(cè),掃描電鏡都能夠提供精確的信息。除了高分辨率成像外,掃描電鏡還具有能夠?qū)悠愤M(jìn)行定量化分析的能力。例如,掃描電鏡可以對(duì)化學(xué)成分、尺寸、形狀等物理參數(shù)進(jìn)行定量分析。這種定量分析能力使掃描電鏡成為了工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域中不可或*的工具。本期內(nèi)容,我們將會(huì)一起探討ZEM18掃描電鏡在工業(yè)檢測(cè)上的...
我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展,Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息!在本新聞中,您將了解到有關(guān)新功能的信息,有一個(gè)演示該系統(tǒng)在CMP過(guò)程的案例研究以及我們?cè)谥袊?guó)的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開(kāi)新的探索途徑!Smart2變得更加靈活多樣,添加了三個(gè)新干涉物鏡,包括干涉2.5XTI和5XTI,以及明場(chǎng)100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭,顯微鏡的功能得到了大大增強(qiáng)。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式,用戶(hù)可以獲取約為1.5微米厚...
層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運(yùn)用于電動(dòng)車(chē)的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而,在循環(huán)過(guò)程中的結(jié)構(gòu)劣化會(huì)造成其不可逆的容量衰減,其中高電壓下產(chǎn)生的層間滑移(planargliding)和晶內(nèi)微裂紋(microcracking)為結(jié)構(gòu)劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌(Lattice-collapse),也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象,即為在退鋰過(guò)程中,垂直c軸的(003)層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹,高壓區(qū)間(約4.1V以上)快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...
偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡,在科研領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對(duì)樣品微觀(guān)結(jié)構(gòu)的精細(xì)觀(guān)察上,還體現(xiàn)在對(duì)樣品性質(zhì)的深入分析上。以下將詳細(xì)闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢(shì)。一、重要作用揭示樣品微觀(guān)結(jié)構(gòu):偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強(qiáng)樣品中的細(xì)節(jié)和對(duì)比度,從而清晰地揭示樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)。這對(duì)于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的科研工作者來(lái)說(shuō)至關(guān)重要,因?yàn)樗麄冃枰钊肓私鈽悠返膬?nèi)部結(jié)構(gòu)以揭示其性質(zhì)和功能。分析樣品光學(xué)性質(zhì):通過(guò)偏光顯微鏡,科研工作者可以觀(guān)察和分析樣...
在科技日新月異的今天,高精度測(cè)量技術(shù)已成為眾多科研與工業(yè)領(lǐng)域至關(guān)重要的重要工具。其中,5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀以其杰出的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,成為了精密測(cè)量領(lǐng)域中的一顆璀璨明星。這款儀器結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和先進(jìn)的3D光學(xué)輪廓儀技術(shù),實(shí)現(xiàn)了在固定位置上的全自動(dòng)3D表面測(cè)量。其特殊的五軸設(shè)計(jì),使得樣品可以在多個(gè)方向上進(jìn)行靈活旋轉(zhuǎn)和定位,從而確保了對(duì)復(fù)雜曲面和不規(guī)則形狀樣品的全表面精確測(cè)量。5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀的測(cè)量原理基于白光干涉現(xiàn)象。光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)...
蔡司掃描電鏡(SEM)作為現(xiàn)代材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的重要分析工具,其樣品的制樣過(guò)程直接關(guān)系到觀(guān)察結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟,旨在幫助用戶(hù)正確制備樣品,從而獲得高質(zhì)量的微觀(guān)圖像。首先,根據(jù)樣品的性質(zhì)(如導(dǎo)電性、硬度等)選擇合適的制樣方法。對(duì)于導(dǎo)電性良好的樣品,如金屬,可以直接使用導(dǎo)電膠將其固定在樣品臺(tái)上。而對(duì)于導(dǎo)電性較差或非導(dǎo)電的樣品,如陶瓷、塑料等,則需要在其表面進(jìn)行鍍膜處理,以增加導(dǎo)電性,避免電荷積累影響觀(guān)察。其次,進(jìn)行樣品的清洗和干燥。...
我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展,Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息!在本新聞中,您將了解到有關(guān)新功能的信息,有一個(gè)演示該系統(tǒng)在CMP過(guò)程的案例研究以及我們?cè)谥袊?guó)的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開(kāi)新的探索途徑!Smart2變得更加靈活多樣,添加了三個(gè)新干涉物鏡,包括干涉2.5XTI和5XTI,以及明場(chǎng)100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭,顯微鏡的功能得到了大大增強(qiáng)。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式,用戶(hù)可以獲取約為1.5微米厚...
隨著國(guó)家對(duì)新材料和新工藝的迫切需求,功能無(wú)機(jī)材料和化工產(chǎn)品的研發(fā)與應(yīng)用正在蓬勃發(fā)展。與此同時(shí),如何進(jìn)行高分辨率的微觀(guān)表征和實(shí)時(shí)過(guò)程監(jiān)測(cè),也成為相關(guān)研究的重要課題。在這一領(lǐng)域,掃描電鏡以其獨(dú)*的成像與分析功能,提供了極*價(jià)值的解決方案。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了納米級(jí)空間分辨率,可以直接觀(guān)測(cè)樣品的微納結(jié)構(gòu)。同時(shí),其配備的能譜系統(tǒng)可以分析材料元素組成,研究材料結(jié)構(gòu)與性能之間的內(nèi)在關(guān)系。此外,ZEM18還可進(jìn)行各種原位測(cè)試,實(shí)現(xiàn)對(duì)化學(xué)反應(yīng)過(guò)程的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。這為研...
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